Système d'analyse de la propreté des composants / Microscope de comptage de particules de propreté VDA19.1 et ISO16232

Le système d'analyse de propreté SinAPC 53M est utilisé pour le contrôle technique de la propreté des composants, notamment pour les particules de 5 à 1 000 µm et plus. Le microscope à comptage de particules identifie automatiquement les particules métalliques, non métalliques et les fibres. Il mesure également automatiquement la longueur, la largeur et la surface, puis catégorise et compte les particules par taille. Enfin, une analyse statistique conforme aux normes VDA 19.1 ou ISO 16232 permet d'obtenir un rapport de contrôle de propreté fiable.

Le système d'analyse de propreté SinAPC 53M comprend les éléments suivants :

1. Microscope optique à grande profondeur de champ

Le microscope corporel à grande profondeur de champ Olympus BX53M (détecte les particules ≥ 5 μm) offre aux clients des solutions plus complètes avec d'excellentes performances d'imagerie et une expérience d'utilisation confortable.

2. Caméra CMOS couleur haute définition

Caméra CMOS couleur haute définition, connecteur USB 3.0, précision de 0,5 µm/pixel, 2,3 millions de pixels effectifs. Fréquence d'images élevée : 40 images/seconde ; capture rapide et sans latence.

3. Plateforme de numérisation motorisée de haute précision

Contrôle entièrement automatique des axes X, Y et Z de la répétabilité du scanner : ≤ 1 µm Course : 80 mm * 60 mm Vitesse maximale : ≥ 100 mm / s Pas minimum : ≤ 200 nm.

4. Logiciel professionnel d'analyse de la propreté

Logiciel professionnel d'analyse de propreté alliant processus et simplicité ; technologie d'assemblage sans faille, positionnement répété de chaque particule, navigation cartographique complète, statistiques des particules, évaluation automatique et exportation en un clic de rapports professionnels, etc., offrant une efficacité, une précision et une fiabilité élevées.